鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005

3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

X光無損測(cè)厚儀原理

產(chǎn)生X射線的簡(jiǎn)單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動(dòng)能（其中的1%）會(huì)以光子形式放出，形成X光光譜的連續(xù)部分，稱之為制動(dòng)輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內(nèi)層電子撞出。于是內(nèi)層形成空穴，外層電子躍遷回內(nèi)層填補(bǔ)空穴，同時(shí)放出波長(zhǎng)在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波長(zhǎng)也集中在某些部分，形成了X光譜中的特征線，此稱為特性輻射。

X光無損測(cè)厚儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1.國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

 2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence